LJC-100kv測(cè)試電纜料擊穿電壓強(qiáng)度的介電強(qiáng)度測(cè)試儀

主要技術(shù)要求：

1、設(shè)備輸入電壓：交流 100KV (普通試驗(yàn)室電源均可兼容)

2、試驗(yàn)電壓方式：交流 0--100 KV ；直流 0--100 KV；

3、電器容量：10KVA;

4、試驗(yàn)方法：0-100KV全量程可調(diào);

5、擊穿及耐壓試驗(yàn)升壓速率：100V/S-5KV/S

6、試驗(yàn)方式： 交/直流試驗(yàn)：1、勻速升壓  2、階梯升壓  3、耐壓試驗(yàn)

7、過電流保護(hù)裝置應(yīng)有足夠靈敏度以保證試樣擊穿時(shí)在0.1S內(nèi)切斷電源。

8、漏電電流選擇：1—30 mA可由計(jì)算機(jī)軟件自由進(jìn)行設(shè)定。

9、本儀器采用先進(jìn)的無觸點(diǎn)原件勻速調(diào)壓方式，淘汰同類產(chǎn)品中機(jī)械傳動(dòng)升壓方式。

10、支持短時(shí)間內(nèi)短路試驗(yàn)要求。(其它同類產(chǎn)品無此功能)

11、一次試驗(yàn)可以同時(shí)做5個(gè)試樣。(同類產(chǎn)品一次試驗(yàn)只能做一個(gè)試樣)

12、電壓測(cè)量誤差：≤ 2％

13、試驗(yàn)電壓連續(xù)可調(diào)：0-100 KV

14、耐壓時(shí)間設(shè)定： 0-6小時(shí)(可通過軟件連續(xù)設(shè)定)

15、九級(jí)安全防護(hù)措施： 

(1) 超壓保護(hù)

(2)試驗(yàn)過流保護(hù) 

(3)試驗(yàn)短路保護(hù)

(4)安全門開啟保護(hù)

(5)軟件誤操作保護(hù)

(6)零電壓復(fù)位保護(hù)

(7)試驗(yàn)結(jié)束放電保護(hù)

(8)獨(dú)立保護(hù)接地

(9)試驗(yàn)完成后電磁放電

測(cè)試電纜料擊穿電壓強(qiáng)度的介電強(qiáng)度測(cè)試儀符合美標(biāo)ASTM D149、國(guó)標(biāo)GB/T1408、GB/T1695-2005、GB/T3333、GB12913-2008、JJG 795-2004標(biāo)準(zhǔn)，詳細(xì)參數(shù)請(qǐng)致電咨詢！　

在工業(yè)頻率下固體電氣絕緣材料的擊穿電壓、介電強(qiáng)度

和絕緣強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法1

本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號(hào)D149發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號(hào)；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號(hào)；圓括號(hào)中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號(hào)。上標(biāo)符號(hào)（ε）表示對(duì)上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。

本標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)批準(zhǔn)被國(guó)防部機(jī)構(gòu)采用。

1. 范圍

1.1　該試驗(yàn)方法覆蓋了在工業(yè)頻率下，即所規(guī)定的特定條件下，測(cè)定固體絕緣材料絕緣強(qiáng)度的流程。2，3

1.2　除非另有說明，否則本測(cè)試的規(guī)定頻率為60Hz。但是，該測(cè)試方法同樣可以應(yīng)用于25到800Hz的條件下。如果頻率大于800Hz，那么將產(chǎn)生介質(zhì)加熱的問題。

1.3　本測(cè)試方法將與其他ASTM標(biāo)準(zhǔn)或涉及該試驗(yàn)方法的其他標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合使用。本方法的參考文獻(xiàn)中將詳細(xì)說明所使用的具體標(biāo)準(zhǔn)（參見5.5）。

1.4　本方法可以應(yīng)用于各種溫度，以及適宜的氣相或液相環(huán)境介質(zhì)。

1.5　本方法不能用于測(cè)定在本測(cè)試條件下為液態(tài)的絕緣材料。

1.6　本方法不能用于測(cè)定本征絕緣強(qiáng)度，直流電絕緣強(qiáng)度，或是電應(yīng)力條件下的熱失效（參考測(cè)試方法D3151）。

1.7　本測(cè)試方法較常用于測(cè)定擊穿電壓與試樣厚度的關(guān)系（擊穿）。也能測(cè)定擊穿電壓與固體試樣表面情況以及氣相或液相環(huán)境介質(zhì)的關(guān)系（閃絡(luò)）。如果加上第12條的修改說明，本測(cè)試方法還能用于驗(yàn)證試驗(yàn)。

1.8　本測(cè)試方法與國(guó)際電工協(xié)會(huì)（IEC)出版的243-1標(biāo)準(zhǔn)類似。本方法中的所有流程包含在IEC 243-1標(biāo)準(zhǔn)中。本方法和IEC 243-1主要是在編輯上有所區(qū)別。

1.9　本標(biāo)準(zhǔn)并沒有*列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌。使用本規(guī)范前，使用者有責(zé)任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范，并明確該規(guī)范的使用范圍。具體的危害將在第7部分中闡述。也可以參見6.4.1節(jié)。

2. 引用文件

2.1　ASTM標(biāo)準(zhǔn)：4

D374 　固體電絕緣體厚度的測(cè)試方法（2013年取消）5

D618 　試驗(yàn)用調(diào)節(jié)塑料操作規(guī)程

D877 　用圓盤電極測(cè)定電絕緣液體介電擊穿電壓的試驗(yàn)方法

D1711 　電絕緣相關(guān)術(shù)語

D2413 　用液體介質(zhì)浸漬的絕緣紙和紙板的制備規(guī)程

D3151 　在電氣應(yīng)力下固體電氣絕緣材料的熱失效的測(cè)試方法（2007年取消）5

D3487 　在電設(shè)備中使用的礦物絕緣油的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

D5423 　強(qiáng)制對(duì)流試驗(yàn)爐中的電氣絕緣評(píng)估規(guī)范

2.2　IEC標(biāo)準(zhǔn)

出版物243-1　　固體絕緣材料介電強(qiáng)度的試驗(yàn)方法—第1部分：在工業(yè)頻率下測(cè)試6

2.3　ANSI標(biāo)準(zhǔn)

C68.1 　絕緣測(cè)試技術(shù)，IEEE標(biāo)準(zhǔn)號(hào)4　7

1　本試驗(yàn)方法在ASTM委員會(huì)D09（電子和電氣絕緣材料）的管轄范圍內(nèi)，D09.12分會(huì)（電學(xué)試驗(yàn)）負(fù)直接責(zé)任。

本版本于2013年4月1日被批準(zhǔn)，2013年4月出版。首版于1922年被批準(zhǔn)。上一版為D149-09于2009年被批準(zhǔn)。　DOI:　10.1520/D0149-09R13。

2　Bartnikas, R., 第3章, “高電壓測(cè)量," 固體絕緣材料的電學(xué)性能,測(cè)量技術(shù), 第IIB卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas, Editor, ASTM STP 926, ASTM, Philadelphia, 1987。

3　Nelson, J. K., 第5章, “固體的電介質(zhì)擊穿," 固體絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, 第IIA卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas和R. M. Eichorn,Editors, ASTM STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983。

4　對(duì)于參照的ASTM標(biāo)準(zhǔn)，請(qǐng)查看ASTM網(wǎng)站。ｏｒｇ，或聯(lián)系A(chǔ)STM客戶中心，郵件：對(duì)于ASTM標(biāo)準(zhǔn)卷冊(cè)的信息，參看ASTM網(wǎng)站的標(biāo)準(zhǔn)文件摘錄頁。

5　該歷史標(biāo)準(zhǔn)的較新批準(zhǔn)版本見網(wǎng)站

6　可從國(guó)際電工學(xué)協(xié)會(huì)（IEC）獲得

7可從美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)　(ANSI)獲得

3. 術(shù)語

3.1　定義：

3.1.1　介質(zhì)擊穿電壓（電擊穿電壓），名詞：使得位于兩個(gè)電極之間的絕緣材料失去介電性能的電勢(shì)差（參見附錄X1）。

3.1.1.1　討論一介質(zhì)擊穿電壓有時(shí)也簡(jiǎn)稱“擊穿電壓"。

3.1.2　介電失效（在測(cè)試中），名詞：指在測(cè)試限制的電場(chǎng)條件下，能夠持久由介電電導(dǎo)率上升所證明的情況。

3.1.3　絕緣強(qiáng)度，名詞：指在測(cè)試的特定條件下，使得絕緣材料介電失效時(shí)的電壓梯度。

3.1.4　電氣強(qiáng)度，名詞：參見絕緣強(qiáng)度。

3.1.4.1　討論一在國(guó)際上，“電氣強(qiáng)度"更常用些。

3.1.5　閃絡(luò)，名詞：指發(fā)生在絕緣體或絕緣體周圍介質(zhì)的破壞性電火花，不一定對(duì)絕緣體產(chǎn)生較久損害。

3.1.6　其他與固體絕緣體材料相關(guān)術(shù)語的定義，參見術(shù)語D1711。

4. 測(cè)試方法概要

4.1　在工業(yè)電頻率條件下（如無特殊說明，則為60Hz），對(duì)測(cè)試樣品采用不同的電壓。以使用電壓所描述三種方法中的一種，將電壓從0或從低于擊穿電壓的恰當(dāng)電壓開始，升高到測(cè)試樣品發(fā)生介電失效為止。

4.2　大多數(shù)情況下，在測(cè)試樣品的兩邊安裝簡(jiǎn)單的測(cè)試電極，以進(jìn)行電壓測(cè)試。測(cè)試樣品可以是模制的，也可以是鑄造的，或是從扁平薄板或厚板上切割下來的。也可以使用其他的電極或樣品結(jié)構(gòu)以適應(yīng)樣品材料的幾何形狀，或是模擬正在被評(píng)估材料的特定用途。

5. 意義和使用

5.1　電絕緣材料的絕緣強(qiáng)度是決定材料可以在何種條件下使用的關(guān)鍵性能。在很多情況下，材料的絕緣強(qiáng)度是所使用裝置設(shè)計(jì)的決定性因素。

5.2　本方法中介紹的測(cè)試，將用于提供部分所需的信息，以判斷材料在一定應(yīng)用條件下的適用性；當(dāng)然也能用于檢測(cè)由于流程的變化，老化的程度，或是其他制造或環(huán)境條件而造成的變化或是與正常特征的偏差。該測(cè)試方法可以有效地應(yīng)用于流程控制，驗(yàn)證或研究測(cè)試。

5.3　本測(cè)試方法所獲得的結(jié)果，很少能直接用于實(shí)際使用材料介電性能的判斷。在大多數(shù)情況下，還需要對(duì)其他功能測(cè)試和/或?qū)ζ渌牧蠝y(cè)試所獲得的結(jié)果進(jìn)行比較，以估計(jì)出它們對(duì)特定材料的影響，才能進(jìn)行評(píng)價(jià)。

5.4　在第12章中將具體說明三種電壓使用方法。方法A，快速測(cè)試；方法B，逐步測(cè)試；方法C，慢速測(cè)試。方法A常用于質(zhì)量控制測(cè)試。較費(fèi)時(shí)的方法B和C通常給出較低的結(jié)果，但在對(duì)不同材料進(jìn)行相互比較時(shí)，它們所給出的結(jié)果更有說服力。如果可以安裝電動(dòng)電壓控制器，那么慢速測(cè)試法將比逐步測(cè)試法更簡(jiǎn)單，也更常用。方法B和C所獲得的結(jié)果可以相互比較。

5.5　詳細(xì)說明本測(cè)試法的文件如下：

5.5.1　電壓應(yīng)用的方法。

5.5.2　如果是慢速測(cè)試法，應(yīng)說明電壓的增速。

5.5.3　測(cè)試樣品的選擇，準(zhǔn)備和調(diào)整。

5.5.4　測(cè)試時(shí)的環(huán)境介質(zhì)和溫度。

5.5.5　電極。

5.5.6　在可能的情況下，電流傳感元件失效的標(biāo)準(zhǔn)，以及，

5.5.7　以及任何與推薦流程的偏差。

5.6　如果5.5所列要求沒有出現(xiàn)在說明文件中，可按以下推薦進(jìn)行處理。

5.7　如果5.5所列的條目沒有詳細(xì)說明，那么就是在參考就不充分條件下進(jìn)行測(cè)試，則測(cè)試不符合本方法的要求。如果5.5所列的條目沒有獲得嚴(yán)格控制，那么就無法實(shí)現(xiàn)15.2和15.3所陳述的精度。

5.8　電流傳感元件失效標(biāo)準(zhǔn)（電流設(shè)定和反應(yīng)時(shí)間）的變化將明顯影響測(cè)試結(jié)果。

5.9　附錄X1包含了對(duì)絕緣強(qiáng)度測(cè)試顯著性更為復(fù)雜的討論。

6.裝置

6.1　電壓源—由變化正弦低壓電源通過升壓變壓器提供測(cè)試電壓。作為電壓源的變壓器及相關(guān)的控制應(yīng)具有以下功能：

6.1.1　電壓峰值與電壓有效值的比率應(yīng)等于根號(hào)2±5%(1.34到1.48)，對(duì)于電路中的測(cè)試樣品，所有的電壓都應(yīng)大于擊穿電壓的50%。

6.1.2　電壓應(yīng)具有滿足維持到擊穿電壓的能力。對(duì)于大多數(shù)的材料來說，使用與表1所示電極相似的電極，輸出電流強(qiáng)度為40mA就可以了。對(duì)于更復(fù)雜的電極結(jié)構(gòu)，或是對(duì)于高損耗測(cè)試材料，則需要更高的電流。對(duì)于大多數(shù)測(cè)試來說，電源需要在測(cè)試低電容的0.5kVA，10kV到5kVA，100kV的范圍內(nèi)變化。

表1 　用于不同絕緣材料絕緣強(qiáng)度測(cè)試的典型電極A

A　在ASTM標(biāo)準(zhǔn)中，這些電極都是較常被或是被參考使用的。除了5型電極外，不建議將電極用于平面材料以外材料。

B　電極通常采用黃銅或不銹鋼制造。應(yīng)參考控制被測(cè)材料的標(biāo)準(zhǔn)，以確定材料是否合適。

C　電極表面應(yīng)拋光并清除上次測(cè)試留下的雜物。

D　參考恰當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)，以確定所安裝上側(cè)電極的負(fù)載力。除非另有說明，否則上側(cè)電極應(yīng)重50±2g。

E　參考恰當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)，以確定適當(dāng)間距的梯度。

F　IEC出版物243-1給出了6型電極，以測(cè)定平板材料。對(duì)于電極的同心度來說，他們沒有1型和2型電極那么重要。

G　只要測(cè)試樣品圓形邊緣的內(nèi)側(cè)直徑大于15mm，也可使用其他直徑。

H　7型電極，即注G中所描述的電極，由IEC出版物243-1給出，測(cè)量時(shí)應(yīng)平行與表面。

6.1.3　根據(jù)12.2，對(duì)可變低壓源的控制可以改變電源的壓力，使得合成的測(cè)試電壓流暢，均勻，沒有超量或是瞬變。在任何環(huán)境下，都不允許峰值電壓超過顯示電壓有效值的1.48倍。電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制器更適合于進(jìn)行快速測(cè)試（參見12.2.1）或慢速測(cè)試（參見12.2.3)。

6.1.4　在電源上安裝可以在三個(gè)周期內(nèi)運(yùn)行的切斷設(shè)備。該設(shè)備將電壓源設(shè)備與電源設(shè)備切斷，以保護(hù)電壓源不受試樣擊穿造成設(shè)備過載的影響。如果破裂后保持持續(xù)的電流，將造成測(cè)試樣品不必要的燃燒，電極的點(diǎn)蝕并污染液體環(huán)境介質(zhì)。

6.1.5　斷路設(shè)備應(yīng)具有位于次級(jí)升壓變壓器上可以調(diào)節(jié)電流的檢測(cè)元件，以便根據(jù)測(cè)試樣的性質(zhì)進(jìn)行調(diào)整和排列，以檢測(cè)試驗(yàn)電流。設(shè)置檢測(cè)元件以應(yīng)對(duì)12.3所定義的測(cè)試樣擊穿電流。

6.1.6　電流設(shè)置對(duì)測(cè)試結(jié)果具有重大影響。設(shè)置應(yīng)足夠高，使得短暫電壓，例如局部放電，無法通過斷路器，如果不夠高，將擊穿過度燃燒的測(cè)試樣，并造成電極的損壞。優(yōu)化的電流設(shè)置并不能適用于所有的測(cè)試樣，這有賴于材料的具體使用情況以及測(cè)試的目的，有必要以多個(gè)電流設(shè)置對(duì)所給測(cè)試樣進(jìn)行測(cè)試。電極區(qū)域?qū)﹄娏鞯脑O(shè)置選擇具有重大的影響。

6.1.7　測(cè)試樣電流感應(yīng)元件應(yīng)位于升壓變壓器的前端。按測(cè)試樣電流校準(zhǔn)電流檢測(cè)刻度。

6.1.8　應(yīng)小心設(shè)置電流控制響應(yīng)。如果控制設(shè)置得太高，在擊穿發(fā)生時(shí)，將不會(huì)產(chǎn)生響應(yīng)。如果設(shè)置得太低，就會(huì)對(duì)漏電電流，電容電流或局部放電電流（電暈）產(chǎn)生響應(yīng)，或在檢測(cè)元件位于前端時(shí)，對(duì)升壓變壓器的磁化電流產(chǎn)生響應(yīng)。

6.2　電壓測(cè)量—備有電壓表以測(cè)定測(cè)試電壓有效值。應(yīng)采用可以讀取峰值的電壓計(jì)，將讀數(shù)除以即為有效值。電壓測(cè)量電路的總體誤差不能超過測(cè)量值的5%。另外，無論采用何種速度，電壓計(jì)響應(yīng)時(shí)間的滯后率不得超過全程的1％。

6.2.1　通過將電壓計(jì)或潛在變壓器連接到測(cè)試樣電極上，或連接到變壓器上獨(dú)立的電壓計(jì)線圈上，以測(cè)定電壓。后一種連接方式將不會(huì)影響升壓變壓器的負(fù)載。

6.2.2　要求電壓計(jì)較大可讀電壓要大于擊穿電壓，以便能夠準(zhǔn)確讀取和記錄擊穿電壓。

6.3　電極—對(duì)于給定的測(cè)試樣結(jié)構(gòu)，擊穿電壓還是會(huì)由于測(cè)試電極的幾何形狀以及安裝位置而產(chǎn)生相當(dāng)大的變化。

6.3.1　參考本測(cè)試方法的文件詳細(xì)說明了表1中所列的電極。如果沒有詳細(xì)說明的電極，那么應(yīng)從表1中挑選合適的電極，或在由于被測(cè)試材料的性質(zhì)或結(jié)構(gòu)而無法使用標(biāo)準(zhǔn)電極的情況下，采用雙方都認(rèn)可的其他電極。一些特殊電極的例子，可以參見附錄X2。無論何種情況，都應(yīng)在報(bào)告中說明所采用的電極。

6.3.2　表1中的1到4型及6型電極的整個(gè)平面都應(yīng)與測(cè)試樣相接觸。

6.3.3　采用7型電極測(cè)試的測(cè)試樣，在測(cè)試中應(yīng)處于電極內(nèi)，其到電極邊緣的距離不得少于15mm。在大多數(shù)情況下，使用7型電極進(jìn)行測(cè)試時(shí)，其電極表面應(yīng)處于垂直位置。水平放置電極的測(cè)試不能與垂直放置電極的測(cè)試進(jìn)行直接比較，尤其對(duì)于在液相環(huán)境介質(zhì)進(jìn)行的測(cè)試。

6.3.4　保持電極表面的清潔和光滑，清除先前測(cè)試所留下的雜物。如果電極表面粗糙，則應(yīng)及時(shí)更換電極。

6.3.5　對(duì)電極的初次生產(chǎn)和隨后的表面重修應(yīng)維持電極的特定結(jié)構(gòu)以及光潔度，這是非常重要的。電極表面的平整度和表面光潔度應(yīng)保證電極的整個(gè)區(qū)域都能與測(cè)試樣緊密接觸。在測(cè)試非常薄的材料時(shí)，表面光潔度將尤為重要，這是由于電極不恰當(dāng)?shù)谋砻鏁?huì)對(duì)測(cè)試材料產(chǎn)生物理損壞。表面重修時(shí)，不能改變電極表面與特定邊緣半徑之間的過渡。

6.3.6無論在大小或形狀上有多大的差別，位于較低應(yīng)力集中處的電極，通常是比較大的且具有較大半徑的那一個(gè)，應(yīng)具有接地電位。

6.3.7　在一些特定的液相金屬電極中，將使用電極箔，金屬球，水或?qū)щ娡繉与姌O。應(yīng)該認(rèn)識(shí)到這造成了所得結(jié)果與其他類型電極所獲得的結(jié)果之間存在很大的不同。

6.3.8　由于電極對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，常常會(huì)得到一些額外的信息，以至于需要對(duì)多種電極進(jìn)行測(cè)試才能了解一個(gè)材料（或一組材料）的絕緣性能。這對(duì)于研究測(cè)試尤為具有價(jià)值。

6.4　環(huán)境介質(zhì)—有關(guān)本測(cè)試法的文件應(yīng)說明環(huán)境介質(zhì)和測(cè)試溫度。為了避免閃絡(luò)以及使擊穿前局部放電的影響較小化，即使是對(duì)于快速測(cè)試，應(yīng)更傾向于甚至是必須在絕緣液中進(jìn)行測(cè)試（參見6.4.1）。絕緣液中獲得的擊穿值不能與空氣中獲得的值進(jìn)行比較。絕緣液的性質(zhì)和前次使用的程度也會(huì)影響測(cè)試的結(jié)果。在某些場(chǎng)合，在空氣中進(jìn)行測(cè)試，需要大量的測(cè)試樣，或者會(huì)在擊穿前，造成嚴(yán)重的表面放電以及燒蝕。一些在空氣中測(cè)試的電極系統(tǒng)應(yīng)在電極周圍包上壓力墊片以防止閃絡(luò)。電極周圍墊片或封條的材料將影響擊穿電壓值。

6.4.1　如果在絕緣油中進(jìn)行測(cè)試，應(yīng)提供適當(dāng)大小的油池。（注意—在測(cè)試電壓高于10kV時(shí)，并不推薦使用玻璃容器，因?yàn)閾舸┧尫懦鰜淼哪芰孔阋該羲槿萜?。而金屬池必須進(jìn)行接地）。

推薦使用滿足標(biāo)準(zhǔn)D3487中I型或II型的礦物油。根據(jù)測(cè)試法D877所測(cè)定的結(jié)果，其擊穿電壓至少為26kV。如果另有說明，也可以將其他絕緣液用作環(huán)境介質(zhì)。這些絕緣油包括硅油和其他用于變壓器，斷路器，電容或電纜的液體，但不限于此。

6.4.1.1　絕緣油的性質(zhì)對(duì)測(cè)試結(jié)果具有一定的影響。如上所述，除了擊穿電壓，在測(cè)試較?。ㄐ∮?5μm（千分之一寸）的測(cè)試樣）時(shí)，污染物尤其重要。根據(jù)油和測(cè)試材料的性質(zhì)，其他的特性如溶解氣體含量，水含量以及油的損耗因子都對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。經(jīng)常更換絕緣油，或使用過濾器和其他修復(fù)設(shè)備有利于減小絕緣油性能變化對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

6.4.1.2　從不同電學(xué)性能液體中測(cè)得的擊穿值通常不能進(jìn)行比較。（參見Xl.4.7）如果在不同于室溫的條件下進(jìn)行測(cè)試，應(yīng)通過加熱或冷卻液體確保均勻的溫度。在一些情況下，可以將絕緣池放入加熱箱（參見6.4.2）中以控制溫度。如果要強(qiáng)制循環(huán)液體，應(yīng)防止氣泡進(jìn)入到液體中。除非另有說明，否則電極上的測(cè)試溫度應(yīng)維持在±5℃以內(nèi)。在很多情況下，應(yīng)說明測(cè)試樣將在絕緣油中進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試樣在測(cè)試前已浸入絕緣油中并且未從絕緣油中取出（參見操作規(guī)程D2413）。對(duì)于這些材料，絕緣池的設(shè)計(jì)應(yīng)保證測(cè)試樣在測(cè)試前不得暴露于空氣當(dāng)中。

6.4.2　如果在其他環(huán)境溫度或濕度下進(jìn)行空氣中的測(cè)試，應(yīng)準(zhǔn)備加熱箱和濕度控制室。加熱箱應(yīng)滿足D5423標(biāo)準(zhǔn)的要求，并能確保測(cè)試電壓適于使用的溫度。

6.4.3除了在空氣以外，在其他氣體中進(jìn)行測(cè)試也要求使用可以排除或充滿測(cè)試氣體的控制室，這些控制室通常還要控制壓力。由所進(jìn)行測(cè)試項(xiàng)目的性質(zhì)決定控制室的設(shè)計(jì)。

6.5　測(cè)試室—進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試室或測(cè)試區(qū)域應(yīng)具有充足的空間以容納測(cè)試設(shè)備，并備有互鎖設(shè)備，以防止接觸到任何帶電部件。電壓源，測(cè)量設(shè)備，池或加熱箱，以及電極的許多不同的物理安排都是可能的，但有三條是必須的（1）所有進(jìn)出帶電部件區(qū)域的門或倉門都必須互鎖，以便在開始測(cè)試時(shí)切斷電壓源；(2)應(yīng)盡可能的清除干凈，使得電極表面和測(cè)試樣之間沒有扭曲的區(qū)域，測(cè)試電極之間不會(huì)發(fā)生閃絡(luò)和局部放電（電暈）；以及(3)在測(cè)試之間測(cè)試樣的插入和替換都應(yīng)盡可能的簡(jiǎn)單便捷。在測(cè)試中常常需要對(duì)電極和測(cè)試樣進(jìn)行目測(cè)。

7. 危害

7.1　注意—在本測(cè)試中將會(huì)出現(xiàn)致命的電壓。有必要恰當(dāng)?shù)卦O(shè)計(jì)并安裝測(cè)試設(shè)備和所有與之電氣連接的設(shè)備，以保證安全操作。在測(cè)試中任何人都接觸的導(dǎo)電部件都應(yīng)穩(wěn)固的放在地上。在測(cè)試完成時(shí)，應(yīng)采取措施置于地上的部件包括：（a）在測(cè)試中處于高壓條件下的部件，（b）在測(cè)試中獲得感應(yīng)電荷的部件，或（c）即使在斷開與電壓源的連接后仍具有電荷的部件。通過指導(dǎo)讓所有的操作員以恰當(dāng)?shù)姆绞桨踩倪M(jìn)行測(cè)試。在進(jìn)行高壓測(cè)試時(shí)，尤其是在壓縮氣體或是在油中進(jìn)行時(shí)，擊穿所產(chǎn)生的能量足以引發(fā)大火，爆炸或測(cè)試室的破裂。設(shè)計(jì)測(cè)試設(shè)備，測(cè)試室和測(cè)試樣，以減小發(fā)生此類事故的可能性并消除人員傷亡的可能性。

7.2　警告—在高濃度條件下，臭氧將危害生理健康。由政府部門設(shè)定臭氧接觸極限，這通常是以美國(guó)政府工業(yè)衛(wèi)生工作者會(huì)議8的推薦值為基礎(chǔ)。在電壓高到足以在空氣或其他含有氧

8　可從美國(guó)政府工業(yè)衛(wèi)生工作者會(huì)議(ACGIH)獲得

氣的大氣中產(chǎn)生局部或*放電時(shí)，將產(chǎn)生臭氧。在低濃度時(shí)，臭氧就具有了特殊的氣味，

但是持續(xù)的吸入臭氧會(huì)造成對(duì)臭氧暫時(shí)失去知覺。正因?yàn)槿绱?，?dāng)持續(xù)出現(xiàn)臭氧的氣味或是一直存在臭氧產(chǎn)生的條件時(shí)，采用工業(yè)監(jiān)控設(shè)備測(cè)量大氣中的臭氧濃度就十分重要了。采用恰當(dāng)?shù)姆椒ǎ缗艢饪?，可以將工作區(qū)域內(nèi)的臭氧濃度降至可以接受的水平。

8. 取樣

8.1　對(duì)該材料的說明中應(yīng)定義詳細(xì)的取樣流程。

8.2　為了質(zhì)量控制的目的，在取樣時(shí)應(yīng)收集足夠的樣品以評(píng)估被測(cè)樣品的平均質(zhì)量和被檢批次的變化情況，為了使所取樣品不受時(shí)間的影響，應(yīng)在實(shí)驗(yàn)室或其他測(cè)試區(qū)域已經(jīng)開始準(zhǔn)備測(cè)試樣時(shí)進(jìn)行取樣。

8.3　為了獲得較可取的測(cè)試條件，需要從那些遠(yuǎn)離材料中明顯缺損或是間斷的地方進(jìn)行取樣。對(duì)于卷材，除非要對(duì)缺損或間斷的出現(xiàn)或鄰近進(jìn)行調(diào)查，否則應(yīng)避免對(duì)外在的幾層進(jìn)行取樣，例如卷材包的較外層，或是緊鄰片或卷邊緣的材料。

8.4　取樣應(yīng)足夠大，以便能夠按特殊材料的要求進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試（參見12.4）。

9. 測(cè)試樣

9.1　準(zhǔn)備和處理：

9.1.1　按照第8章的要求，從所選樣品中準(zhǔn)備測(cè)試樣。

9.1.2　如果要使用平滑表面的電極，在不進(jìn)行實(shí)際表面加工的情況下，測(cè)試樣與電極接觸的表面應(yīng)盡可能具有平滑的平行面。

9.1.3　測(cè)試樣應(yīng)具有足夠的大小以防止在測(cè)試時(shí)發(fā)生閃絡(luò)。對(duì)于薄的材料，使用足夠大的測(cè)試樣將便于在一片測(cè)試樣上進(jìn)行多次的測(cè)試。

9.1.4　對(duì)于較厚的材料（通常厚度在2mm以上），應(yīng)具有足夠的絕緣強(qiáng)度，以便在擊穿前出現(xiàn)閃絡(luò)或強(qiáng)烈的表面局部放電（電暈）。用于防止閃絡(luò)，或減少局部放電（電暈）的技術(shù)包括：

9.1.4.1　在測(cè)試時(shí)，將測(cè)試樣浸入到絕緣油中。環(huán)境介質(zhì)因素對(duì)擊穿的影響參見X1.4.7。對(duì)于那些沒有干燥且浸入到油中的測(cè)試樣以及那些按照D2413操作規(guī)程準(zhǔn)備的測(cè)試樣來說，這通常都是必要的（參見6.4)。

9.1.4.2　在測(cè)試的一側(cè)或兩側(cè)加工出一個(gè)凹槽或是鉆出一個(gè)平底的洞，以減少測(cè)試的厚度。如果采用不同的電極（如表1中的6型電極），那么只需加工一個(gè)表面，兩個(gè)電極中較大的一個(gè)應(yīng)與加工好的表面相連接。加工測(cè)試樣時(shí)要小心，以免對(duì)測(cè)試樣造成污染或機(jī)械損壞。

9.1.4.3　用封條或整流罩繞住于測(cè)試樣相連接的電極，以減少閃絡(luò)的發(fā)生。

9.1.5　不平的材料應(yīng)采用與樣品材料和幾何形狀相近的測(cè)試樣（和電極）進(jìn)行測(cè)試。有必要按材料的說明確定對(duì)這些材料所使用的測(cè)試樣和電極。

9.1.6　無論材料的形狀如何，如果除了測(cè)試面對(duì)面的擊穿強(qiáng)度以外還要進(jìn)行其他測(cè)試，則要在該材料的說明中指出所使用的測(cè)試樣和電極。

9.2　幾乎在所有的情況下，測(cè)試樣的實(shí)際厚度都很重要。除非另有說明，否則應(yīng)在測(cè)試后，測(cè)量擊穿點(diǎn)鄰近區(qū)域的厚度。應(yīng)在室溫條件下（25±5℃）進(jìn)行測(cè)量，并根據(jù)D374測(cè)試法采取恰當(dāng)?shù)牧鞒獭?/p>

10. 校準(zhǔn)

10.1　在校準(zhǔn)測(cè)量時(shí)，測(cè)試樣應(yīng)處于通路狀態(tài)，并注意那些以6.2所給精度進(jìn)行測(cè)量的電極電壓。

10.2　將一個(gè)獨(dú)立的校準(zhǔn)電壓表連接到測(cè)試電壓源的輸出端，以檢測(cè)測(cè)量設(shè)備的精度。校準(zhǔn)測(cè)量適用的這類電壓表示例為：具有可比精度的電極電壓表，分壓器，或電壓互感器。

10.3　在電壓大于12kV有效值（16.9kV峰值）時(shí)，應(yīng)用球隙校準(zhǔn)電壓測(cè)量設(shè)備的讀數(shù)。ANSI C68.1將詳細(xì)說明此種校準(zhǔn)的后續(xù)流程。

11.調(diào)節(jié)

11.1　大多數(shù)固體絕緣體的擊穿強(qiáng)度都受到溫度和濕度的影響。因此在測(cè)試前，受此影響的材料應(yīng)用控制好的溫度和相對(duì)濕度進(jìn)行平衡。對(duì)于這種材料，調(diào)節(jié)應(yīng)包括在參照本測(cè)試法的標(biāo)準(zhǔn)中。

11.2　除非另有說明。否則應(yīng)按D618操作規(guī)程進(jìn)行后續(xù)流程。

11.3　對(duì)于許多材料來說，濕度對(duì)擊穿強(qiáng)度的影響要大于溫度的影響。對(duì)材料進(jìn)行足夠長(zhǎng)時(shí)間的調(diào)節(jié)，以使得測(cè)試樣同時(shí)達(dá)到濕度和溫度的平衡。

11.4　如果調(diào)節(jié)時(shí)導(dǎo)致測(cè)試樣表面出現(xiàn)凝結(jié)水，應(yīng)在測(cè)試前將測(cè)試樣表面擦干。通常這樣可以減少表面閃絡(luò)的可能性。

12. 流程

12.1?。ㄗ⒁猓涸陂_始任何測(cè)試前請(qǐng)參見第7章。）

12.2　電壓使用的方法：

12.2.1　方法A，快速測(cè)試法—如圖1所示，從零點(diǎn)到擊穿發(fā)生，以一定的增壓速度，將均勻的電壓施加到試驗(yàn)電極上。除非另有說明，否則將采用快速測(cè)試法。

12.2.1.1　在確定增壓速度時(shí)，為了使增速包含在新的規(guī)定值中，對(duì)于給定的測(cè)試樣，應(yīng)選擇在10到20s內(nèi)就發(fā)生擊穿的增速。在某些場(chǎng)合，有必要進(jìn)行1到2次的預(yù)測(cè)試，以確定增速。對(duì)于大多數(shù)材料而言，使用500V/s的增速。

12.2.1.2　如果文件參考本測(cè)試方法所的增速，那么即使擊穿時(shí)間偶然出現(xiàn)在10到20s的范圍之外，也應(yīng)繼續(xù)采用。如果出現(xiàn)這種情況，應(yīng)在報(bào)告中記錄下失效次數(shù)。